Published December 2, 2022 | Version Online
Journal article Open

ВЛИЯНИЕ ДЕФОРМАЦИИ НА МИГРАЦИИ ДЕФЕКТОВ В ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ТОНКИХ ПЛЕНКАХ

  • 1. Доктор физика-математических наук, профессор Ферганского Государственного университета, e-mail: otajonov_s@mail.ru, Телефон: +998936431433
  • 2. преподаватель Ферганского Государственного университета, Телефон: +998911168708
  • 3. преподаватель Ферганского Государственного университета, Телефон: +998936404183

Description

Разработанно устройство для изучения тензосвойства фоточувствительных полупроводниковых тонких пленок и опробировано тензочувствительности фоточувствительных пленок теллурида кадмия. Выяснено, что фоточувствительные пленки обладают значительной тензочувствительностью в области края поглощения вблизи энергии hv = 1,4 эВ, который зависить от технологии получения и размеров пленочных элементов.

Files

Отажонов Салим Мадрахимович.pdf

Files (915.9 kB)