Локализация мест установки закладных устройств методом импульсной рефлектометрии

Данная статья посвящена обзору метода импульсной рефлектометрии и особенностям поиска закладных устройств с помощью рефлектометров на примере программно–аппаратного комплекса для исследования сигналов в проводных линиях «Сириус».

Проведен сравнительный анализ рефлектограмм, полученных в результате исследования различных дефектов и подключений к кабелю. Такие рефлектограммы позволяют определить точное расстояние до подключения, давая возможность обнаруживать закладные устройства.

This article provides an overview of the time-domain reflectometry and secret intelligence devices location using reflectometers an example of equipment for data investigation in wired lines “Sirius”.

It resulted in the comparative analysis of the traces obtained from the study of various defects and connections to the cable. Such traces are possible to determine the exact distance to the connection. It gives the ability to detect secret intelligence devices.