Anexo I: Superposición Parcial y Compatibilidad de Campos — Versión Extendida

**La observación óptica directa, combinada con la detección elemental del XRF, demuestra que en una muestra supuestamente compuesta por un “elemento dominante” (como Si o C) con “impurezas”, las únicas unidades reales con masa y firma son precisamente las impurezas.

Las verificaciones indirectas (difracción, espectros, refracción, resonancias) describen el comportamiento del campo mínimo detectable, no del elemento dominante.
Cambiar la impureza cambia completamente los resultados experimentales.