Published March 19, 2025 | Version v1
Journal article Open

ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДОМ ФОТОЛЮМИНЕСЦЕНЦИИ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОДЕФЕКТОВ В ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СЛОЯХ ZNSE/GAAS

Description

МПЭ усылы менен өсирилген ҳәр қыйлы қалыңлықтағы ZnSe/(001) GaAs эпитаксиаль жуқа пленкасының фотолюминесценция усылы менен терең қатламларындағы нурланыў спектрлери анықланылды. Эпитаксиаль пленканың дефектлерге ҳәм басқа элементлердиң концентрациясына байланыслы нурланыў спектрлериниң үш бөлимнен туратуғынлығы аныкланды.

Files

344-349.pdf

Files (886.8 kB)

Name Size Download all
md5:4e80f8bc07ca708d587e668b6f33510f
886.8 kB Preview Download