Lois de comportement des matériaux utilisés dans les contacts électriques pour application « flip chip ».

Soutenance de thèse de doctorat présentée par David MERCIER, lundi 25 Novembre 2013. Thèse dirigée par Yves Bréchet (SIMaP) et encadrée par Vincent Mandrillon (CEA-LETI) et Marc Verdier (SIMaP).

Dans le cadre de l’intégration « 3D », une technologie d’assemblage par report de puces sur tranche de Silicium (« flip chip ») reposant sur un procédé de microinsertion a été développée ces dernières années. Cette technologie est basée principalement sur la mise en contact par thermocompression, de réseaux de (micro)inserts en Nickel ECD, avec des plots de connexions métalliques en Al(Cu). Au cours de ce travail, un scénario de formation du contact entre un unique microinsert de Nickel rugueux et un film mince d’Aluminium lisse, prenant en compte la présence d’Alumine native à l’interface de contact, est proposé pour une gamme de pressions allant du MPa au GPa. L’analyse du contact métal-oxyde-métal se base essentiellement sur la fissuration de l’oxyde natif suivie de l’extrusion du métal au travers des fissures, et nécessite d’établir au préalable les lois de comportement des matériaux mis en jeu à partir d’essais de nanoindentation instrumentée couplés à des simulations numériques. Enfin, la mesure de l’évolution de la résistance électrique de contact en fonction de la force appliquée à l’aide de dispositifs expérimentaux originaux, permet de mettre en évidence les différents mécanismes de formation du contact métallique lors du procédé de microinsertion.